X-RAY熒光鍍層測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是應用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。它是由大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型儀器上發展而來的。與上一代相類似，它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能全自動檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL采用了完全基本參數法，因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。其測量范圍為元素氯（17）到鈾（92）。適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

典型的應用領域有：

• 測量大規模生產的電鍍部件

• 測量超薄杜策，例如：裝飾鉻

• 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

• 全自動測量，如測量印刷線路板

• 分析電鍍溶液
  

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據不同的預期用途，有不同的版本。
XDL 210 型的工作臺為固定式工作臺，固定位置的 Z 軸系統。

XDL 220 型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅動的 Z 軸系統。

XDL 230 型配有可手動操控的 X/Y 工作臺，馬達驅動的 Z 軸升降系統。

XDL 240 型則配備了馬達驅動的 X/Y 工作臺，當保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅動的可編程 Z 軸升降系統。

XDL系列儀器可選配圓形或長方形準直器，采用比例接收器，測量距離為0-80mm，使用專利保護的DCM測量距離補償法。

使用高分辨率的CCD彩色攝像頭

儀器重量100kg-120kg

儀器使用時溫度范圍10℃-40℃，空氣相對濕度為≤95%，無結露

計算機要求：帶擴展卡的計算機系統

可按要求，提供額外的XDL型產品更改和XDL儀器技術咨詢